尼得科精密检测株式会社(以下简称“本公司”)将参展2025年9月24日(周三)~9月26日(周五)于上海新国际博览中心举办的“PCIM Asia Shanghai 2025”。
该展会是代表电力电子行业的国际性展会,汇集了前沿的技术和趋势,成为了把握市场新动向的平台。此外,也是覆盖了从功率半导体到封装、系统以及应用的整个价值链的活动。
本公司将在本次展会上展示与IGBT/SiC等功率半导体检测相关的前沿检测技术及检测装置。此外,还将进行IGBT/SiC/GaN功率半导体检测装置NATS系列的实机演示,并提供如多功能测试仪等多样化的功率半导体检测解决方案。
〈参展概要〉
・会期:2025年9月24日(周三)~9月26日(周五)
・会场:上海新国际博览中心
・展位:B46
〈主要参展内容〉
・IGBT/SiC半导体功率模块可靠性检测装置“NATS系列”
・AC/DC电容测量用多功能测试仪“R-700系列”